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NFA100-E是一套功能強(qiáng)大且極具靈活性的Nand Flash分析系統(tǒng),它最大限度地滿足用戶的對(duì)于Nand Flash的信息分析需求以及對(duì)這些信息的再處理需求,用戶還可以通過API和腳本(Script)來擴(kuò)展任何自定義的測試或分析功能。
面向?qū)ο?/strong>
NFA100-E主要面向:企業(yè)閃存控制開發(fā)人員、高校教授及碩士、博士進(jìn)行閃存研究、以及各種特殊單位進(jìn)行閃存的安全性、可靠性研究的研發(fā)人員。
技術(shù)指標(biāo)
1、支持最新制程3D Nand Flash,1x nm以及25nm,34nm,56nm制程N(yùn)and Flash;
2、支持SLC,MLC,TLC,eMLC;
3、支持8位和16位異步Flash;
4、支持同步,Toggle Flash;
5、支持Micron、Toshiba、Samsung、Intel、Sandisk,Hynix廠商所有常規(guī)Nand Flash;
6、支持TSOP48,BGA63,BGA100,BGA132,BGA152封裝;
7、可以定制開發(fā)非常規(guī)封裝、自定義封裝Nand Flash。
性能指標(biāo)
1、通過USB2.0接口測試設(shè)備內(nèi)部連接工控電腦,計(jì)算由測試主板FPGA完成,對(duì)工控電腦資源消耗極低,USB2.0僅僅是將計(jì)算結(jié)果反饋給軟件,因此不會(huì)對(duì)性能產(chǎn)生任何影響;
2、測試效率主要取決于所需要測試Nand Flash的接口性能以及所需測試項(xiàng)目的內(nèi)容,如:測試P/E cycle,所需時(shí)間完全取決于測試Block數(shù)量、測試pattern,及Nand Flash接口的性能。
特殊用途
1、測試客戶自主開發(fā)的BCH ECC或者LDPC強(qiáng)度;
2、測試Read Retry
3、對(duì)Nand Flash進(jìn)行電壓拉偏測試;
4、對(duì)Nand Flash進(jìn)行物理燒毀測試;
基本配置
1、顯示屏:12.1″ TFT LED 電阻式觸摸屏;
2、芯片組:Intel® Bay-trail J1900 2.0GHz;
3、內(nèi)存:2GB
4、存儲(chǔ):32GB Renice SSD;
5、操作系統(tǒng):Windows 7
6、I/O 接口:3個(gè)USB2.0, 1個(gè)USB3.0;4個(gè) RS232; 1個(gè)RJ45 千兆網(wǎng)口; 1個(gè)顯示接口;
7、重量:20公斤
NFA100提供了兩種不同級(jí)別的用戶開發(fā)平臺(tái)
1. API
通過API,各種對(duì)NAND Flash的操作及設(shè)定,用戶都可以通過調(diào)用NFA100提供的庫程序在自己的軟件中方便的實(shí)現(xiàn)自己需要的功能。
2.腳本(script)
NFA100提供了一套自己的編程語言,用戶可以在NFA100的環(huán)境(界面)下執(zhí)行自定義的script。